在做透射電子顯微鏡（TEM測試）時，科學指南針檢測平臺工作人員在與很多同學溝通中了解到，大多數同學對tem測試不是很理解，針對此，科學指南針檢測平臺團隊組織相關同事對網上海量知識進行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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通常自支撐樣品是通過塊體材料的減薄來制取的，往往一種材料也可以是復合材料經過加工，形成3.05 mm的圓片，其最適合分析的地方一般是樣品最薄的地方，而其他樣品則是放在微柵或者銅環(huán)上。關于減薄我們將在FIB一節(jié)講解，首先討論不同類型的支撐網，根據網格支撐材料的不同可分為銅網、鉬網和鎳網。使用不同材料的網格主要是為了避開能譜掃描中的干擾信號，如制備含銅的納米顆粒時，使用鉬或者鎳網，可以有效避免支架含銅對特征X射線信號的干擾。

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通常網格支架上鋪有一層碳膜，依據碳膜厚度可衍生出普通碳膜網（15-30 nm）、薄純碳膜（7-10 nm）、超薄碳膜網（3-5 nm）及單層石墨烯碳膜網（<1 nm）。之所以需要采用更薄的碳膜，主要是為了增加量子點之類的襯度，如拍攝碳量子點，尤其是5 nm以下的碳量子點。如材料是片狀可以使用微柵網，其形貌是在碳膜上具有大量的孔，這些孔下即是真空，因此當片狀材料架在孔上的時候可以得到極好的襯度。此外，還有一種方華支持膜，其化學成分是聚乙烯醇縮甲醛，可溶于二氯乙烷或三氯甲烷溶液，所形成的膜，強度高，透過率好，可支持多種樣品觀察。是承載超薄切片的理想材料，因其導電性能不好，在電子束照射下，會因高溫或電荷積累，引起局部受熱碳化，產生局部黑斑，樣品漂移，甚至使膜破碎，損傷被觀察樣品。通常在100 kV電鏡上使用較多。

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