編輯 | 環(huán)儀儀器

一、產(chǎn)品簡介：

BIT（Burn-In Test）測試就是使用BIT軟件對固態(tài)硬盤進行循環(huán)寫入測試，再放入高溫箱中靜置。PCIE SSD BIT測試柜可以提供SSD的BIT測試所需要的高溫老化環(huán)境，目的是為產(chǎn)品做潛在失效分析，因為在長時間讀寫和高溫環(huán)境下，會加速芯片老化，可能導(dǎo)致故障提前出現(xiàn)。

二、技術(shù)參數(shù)：

三、產(chǎn)品特點：

單口最大速度4000MB/S，滿載同時工作時最高速度1500MB/S。

共12臺電腦，每臺電腦同時測試8個PCIE NVME SSD。

可配合自動測試軟件一鍵操作。

每個端口帶保護座，座子壞了直接換保護板。

每個端子配12V轉(zhuǎn)3.3V5A供電，提供充足的工作電流，并帶短路過流過熱保護。

插入下壓式母座，不會用久后接觸不良。

硅膠定位柱，輕松上下盤，用久后不會手痛，且上面盤效率更高。

有32、40、60、80各種長度的定位孔，適合測試各種長度的SSD。

四、BIT電氣規(guī)格：

單口輸出電壓：DC 3.3±0.15V

單口輸出最大電流：5A

電源輸出接口：96PCS

單口最大速度：32GBPS(PCIE GEN3*4)4000MB/S

滿載同時工作最大速度：16GBPS(PCIE GEN3*2)1500MB/S

以上是PCIE SSD BIT測試柜的一些介紹，如有產(chǎn)品選型疑問，可以訪問“環(huán)儀儀器”官網(wǎng)，咨詢相關(guān)技術(shù)人員。