今天鑠思百檢測(cè)小編繼續(xù)分享有關(guān)于XPS測(cè)試的常見(jiàn)問(wèn)題，希望能幫到各位同學(xué)們！

????????（一）我的樣品含有1%的Cu，為什么檢測(cè)不出來(lái)？

???????答：XPS是表面成分分析技術(shù)，主要探測(cè)表面10nm深度的成分信息，樣品表面如果有暴露空氣，會(huì)吸附空氣中的碳?xì)浠衔铮詫?shí)際表面鐵含量肯定小于1%。當(dāng)表面含量低于0.1%，XPS就無(wú)法探測(cè)到，可以用離子源濺射去除表面吸附層后再進(jìn)行分析，這樣可以排除表面的干擾。當(dāng)然測(cè)試條件上，含量低的組分盡量用較大的能量，掃描時(shí)間延長(zhǎng)等。

????????(二)XPS只能測(cè)半定量嗎？

????????答：是的，XP$主要是半定量分析，主要采用靈敏度因子法，靈敏度因子是基于標(biāo)準(zhǔn)樣品獲得的，實(shí)際樣品與標(biāo)準(zhǔn)樣品肯定有偏差，所以得到的定量數(shù)據(jù)就是半定量的數(shù)值。

????? （三）光電子能譜為什么不能測(cè)試揮發(fā)性物質(zhì)？

????????答：因?yàn)闇y(cè)試的時(shí)候要抽真空的，而且XPS測(cè)試的時(shí)候樣品量特別少，揮發(fā)組分可能會(huì)被抽沒(méi)掉，也有可能污染儀器，不建議揮發(fā)物質(zhì)測(cè)XPS。

??????（四）X射線光電子能譜（XPS）和X射線熒光光譜(XRF)是一樣的嗎？

????????答：①相同點(diǎn)都是用x-ray激發(fā)，不同點(diǎn)是，熒光是檢測(cè)被激發(fā)原子發(fā)射熒光波長(zhǎng)、強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)對(duì)元素定性和定量，能譜是測(cè)定激發(fā)出來(lái)的光電子動(dòng)能實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的分析。

②x射線熒光光譜是XRF,做元素含量的定性，定量分析，可以f-u,但是無(wú)法區(qū)分價(jià)態(tài)；射線光電子能譜是XPS,主要做元素含量的定性半定量分析，以及價(jià)態(tài)分析，分析方向不一樣的。

??????（五）衛(wèi)星峰是什么？對(duì)于衛(wèi)星峰，我們有必要進(jìn)行分峰分析么？它的相對(duì)位置的標(biāo)準(zhǔn)譜有么？

????????答：XPS譜圖中，除了特征譜峰，還存在由于終態(tài)效應(yīng)導(dǎo)致的衛(wèi)星峰，例如shake up/off峰，這些譜峰也是非常重要，可以幫助鑒定化學(xué)態(tài)。是否分峰取決于實(shí)驗(yàn)需求，可以查找相關(guān)文獻(xiàn)幫助確定解譜參數(shù)。