線性恒溫恒濕試驗箱滿足標準：? GB/T2423.1、GB/T2423.2 低溫試驗標準； GB/T11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件； ?GJB150.3(MIL-STD-810D) 高溫試驗方法； GJB150.4(MIL-STD-810D) 低溫試驗方法； GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件 GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件 GB10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件 GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件 GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備 GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備 GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法 GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法 GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法 GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則