原理

X射線衍射分析（X-ray diffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原
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子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。

儀器技術(shù)參數(shù)

小角衍射最小角可以達(dá)到0.4度，主要測量介孔材料和其他高分子復(fù)合材料。廣角衍射：最低角度可以

達(dá)到5度，可以精確接收到小于10度的衍射峰。

（1）測量精度：角度重現(xiàn)性±0.0001°；測角儀半徑≥200mm，測角圓直徑可連續(xù)變

（2）最小步長0.0001°；角度范圍（2θ）：-110～168°；溫度范圍：室溫～900℃；

（3）最大輸出：3KW；穩(wěn)定性：±0.01%；管電壓：20～60kV(1kV/1step)；管電流：10～60mA。?

送樣要求

固體粉末：均勻干燥，粒度小于70um（過200目），質(zhì)量不少于100 mg；

塊體、金屬及薄膜樣品：需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×10mm×2mm

應(yīng)用領(lǐng)域

物相分析，可以對(duì)物質(zhì)的組成及物相進(jìn)行表征分析.

定性、定量分析，通過精修可對(duì)物質(zhì)的各組分進(jìn)行精確的定量分析。

高溫原位分析，通過高溫原位可以研究溫度對(duì)物質(zhì)晶型轉(zhuǎn)變的影響。

常見適用標(biāo)準(zhǔn)

通用標(biāo)準(zhǔn)和非通用標(biāo)準(zhǔn)都適用。