Tektronix泰克370B曲線追蹤器

370B 是 Tektronix 的曲線跟蹤器。曲線跟蹤器或曲線檢查器是工程師用來分析半導(dǎo)體器件特性的一種電子測(cè)試設(shè)備。曲線追蹤器包含電流和電壓源，以刺激被測(cè)設(shè)備 (EUT)。曲線跟蹤器將掃描電壓施加到 EUT 的兩個(gè)端子，測(cè)量在每個(gè)電壓下流動(dòng)的電流水平。

附加的功能：

使用 370B 進(jìn)行高分辨率直流參數(shù)測(cè)量（分辨率低至 1 pA 或 2 μV）

使用 371B 提供高電壓和電流源（高達(dá) 3,000 V 或 400 A）

內(nèi)置光標(biāo)測(cè)量 - 點(diǎn)、窗口和功能線

開爾文感應(yīng)測(cè)量

掃描測(cè)量模式

波形比較和平均

完全可編程

1.44 MB 軟盤存儲(chǔ)設(shè)置和曲線位圖

使用第三方打印機(jī)直接硬拷貝

半導(dǎo)體的參數(shù)表征

故障分析

數(shù)據(jù)表生成

制造測(cè)試

過程監(jiān)控和質(zhì)量控制

即將到來的檢查

組件匹配

泰克 370B 提供高達(dá) 20 A/2,000 V 的源電流能力以及 1 pA 和 50 micro V 的測(cè)量分辨率。370B 對(duì)集成電路、晶體管、晶閘管、二極管、SCR、MOSFET、電光元件、太陽能電池、固態(tài)繼電器和其他半導(dǎo)體器件進(jìn)行直流參數(shù)表征。它具有按鈕源和測(cè)量配置，因此很容易從一個(gè)測(cè)試更改為下一個(gè)測(cè)試。g