7月12日，北京時(shí)間20：00

深能級(jí)瞬態(tài)光譜檢測(cè)（DLTS）常用于研究半導(dǎo)體中缺陷的濃度和載流子結(jié)合能，是表征所有形式半導(dǎo)體的關(guān)鍵工具。

作為DLTS應(yīng)用的先驅(qū)者，蘇黎世儀器公司希望能將用戶聚集在一起，共享最佳實(shí)踐技巧與經(jīng)驗(yàn)，幫助大家實(shí)現(xiàn)交流互動(dòng)。

演講嘉賓

胡小波博士，華東師范大學(xué)副教授。他的主要研究方向是微電子學(xué)與固體電子學(xué)、光伏傳感器件以及通信用半導(dǎo)體激光器。

他的報(bào)告主題是：Study of defects in Sb2(SSe)3?solar cells by DLTS

Sandhya Tammireddy?，開姆尼茨工業(yè)大學(xué)在讀博士。她的主要研究方向是通過(guò)不同的光譜方法研究鈣鈦礦中的離子缺陷。

她的報(bào)告主題是：Tempe****** dependent ionic conductivity and properties of iodine related defects in metal halide perovskites

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