?。ǜ叩蜏剡\行、高低溫貯存）試驗的目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制，是確定軍民用設備在低溫條件下儲存和工作的適應性及耐久性。低溫下材料物理化學性能。標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實驗及儲存。低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。

　　高低溫試驗箱：

　　高低溫環(huán)境對設備的主要影響有：

　　a.使材料發(fā)硬變脆；

　　b.潤滑劑粘度增加，流動能力降低，潤滑作用減小；

　　c.電子元器件性能發(fā)生變化；

　　d.水冷凝結(jié)冰；

　　e.密封件失效；

　　f.材料收縮造成機械結(jié)構(gòu)變化。

　　參考標準

　　gjb128a-97《半導體分立器件試驗方法》

　　mil-std-810f《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》

　　gjb4.2-83《艦船電子設備環(huán)境試驗高溫試驗》

　　gjb360a-96電子及電氣元件試驗方法方法108高溫壽命試驗

　　mil-std-202f《電子及電氣元件試驗方法》

　　gjb548a-96《微電子器件試驗方法和程序》

　　mil-std-883d《微電子器件試驗方法和程序》

　　sj/t 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1高溫負荷試驗

　　sj/t 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2高溫貯存試驗

　　gb/t13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》

　　qc/t 413-2002《汽車電氣設備基本技術(shù)條件》

　　gb/t2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗a：低溫》

　　iec 60068-2-1:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗a：低溫》

　　gjb150.4a-2009《設備環(huán)境試驗方法低溫試驗》

　　gjb367.2-87《通信設備通用技術(shù)條件》

　　gjb4.3-83《艦船電子設備環(huán)境試驗低溫試驗》

　　gjb4.4-83《艦船電子設備環(huán)境試驗低溫貯存試驗》

　　gjb367a-2001《通信設備通用規(guī)范》4.7.27低溫試驗

　　sj/t 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.4低溫負荷試驗

　　sj/t 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.5低溫貯存試驗

　　rtca/do-160e機載設備環(huán)境條件和試驗方法

　　qc/t 413-2002《汽車電氣設備基本技術(shù)條件》yd/t1591-2009《移動通信手持機充電器及接口技術(shù)要求和測試方法》