三坐標(biāo)掃描測(cè)頭優(yōu)勢(shì)：

1、適于形狀及輪廓測(cè)量；

2、采點(diǎn)率高；

3、高密度采點(diǎn)保證了良好的重復(fù)性、再現(xiàn)性；

4、更高級(jí)的數(shù)據(jù)處理能力；

三坐標(biāo)掃描測(cè)頭劣勢(shì)：

1、比觸發(fā)測(cè)頭復(fù)雜；

2、對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量較觸發(fā)測(cè)頭為慢；

3、高速掃描時(shí)由于加速度而引起的動(dòng)態(tài)誤差很大，不可忽略，需要加以補(bǔ)償；

4、測(cè)尖的磨損需要注意。